Oratech Technologies oratech
 
.: Proje Detayı-MCKS :.
Proje Detayı
Klon Analiz Sistemi

Tum görüşme kayıtları üzerinden CLONE tespiti için CLONE kriterleri TUM(7*24) kayitlarin uzerinden yapilmakta olup, Sisteme yansitilmaktadir.

IMEI numalarinda TAC bilgilerin ve ozelliklerin ayni cihaza ait oldugunu tespiti yapilarak istenilen herhangi IMEI ile istenilen her makinaya aktarilmamasi icin IMEI TAC ve kullanilan servis eslestirilmeleri ile dogru IMEI'nin dogru CIHAZ tespiti.


kolon analiz

 

Oratech'den Haberler
CEIR/MEIR Dünyada Tek Başarılı Ürün Oldu.
Dünyada ilk defa Türkiyede'de Oratech firması tarafından Ulaştırma Bakanlığına yapılan CEIR/MEIR sistemi Dünyada tek BAŞARILI çalışan sistemi oldu.
Oratech Türk Cumhuriyetlerinde,
MEIR - THIRDEYE - CDMS ürünleri ile Türk Cumhuriyetlerinde, bir çok ülkelerinde MOU ön protokol sözleşmelerini tamamladı.
Oratech Afrika bölgesinde,
MEIR - THIRDEYE - CDMS ürünleri ile Afrikanın, bir çok ülkelerinde MOU ön protokol sözleşmelerini tamamladı.
Yeni bir partnerlık daha ekledik
Veritabanı ve app sistemlerinde 10X özel durumlarda 100X performans sergileyen özel bir LOCAL CLOUD çözümü DIAMANTI
Engelli vatandaşların cağrı hizmeti alabilecekler
Elçi Asist İle Yüz Yüze, Modern Bir Teknoloji Deneyimi Yaşayın

 
   
MEIR Hakkında
Mcks / Ceir / Meir Nedir?
Meir Çalışma Şeması
Dünyada MEIR Gelirleri
Proje Detayı
İthalat Modülü
Bilgi İhbar Merkezi
Bireysel Başvuru Sistemi
Kullanıcı Yönetim Sistemi ve E-İmza
Klon Analiz Sistemi
İstatistikler
İthalatcı İstatisitiği
Bireysel İthalat İstatisitiği
Kayıp Çalıntı İstatistiği
İletişim Bilgileri
Telefon: +90 555 0408840
Fax: +90 555 0408840
e-mail: info@oratech.com.tr
   
 
2010 © Meir | Sitede yayınlanan yazı, görüntü, resim ve kodların kullanılması yasaktır. Tüm hakları Oratech Bilişim Danışmanlık Pazarlama Hizmetleri San. ve Tic. Ltd. Şti.'ye aittir.
Tasarım ve Uygulama Oratech